[发明专利]用于CT系统的辐射校正的方法

摘要

本发明涉及一种用于CT系统(1)的散射辐射校正的方法，该系统带有两个相互角度错开地设置于可转动的支架上并同时运行的焦点/检测器系统(FDSA，FDSB)，其中，两个角度错开地设置的焦点/检测器系统如下地扫描该物体：它们绕CT系统(1)的系统轴线(9)转动，并根据所测得的焦点(F_A，F_B)的辐射衰减确定单个射线的多个吸收值，并且对所测得值进行散射辐射校正，其中，以通道方式为直接射线(S)获得直接射线(S)的强度值(I)与距离180°的互补射线(S’)的强度值(I’)的正的差，并且将该正的差(Δ＝I－I’)作为散射辐射校正从直接射线(S)的强度值(I)中扣除，以便由此确定衰减值并从中以已知的方式重建CT图像和CT立体数据。

主权项

1.一种用于对CT系统(1)进行散射辐射校正的方法，所述CT系统带有两个相互角度错开地设置于可转动的支架上并同时运行的焦点/检测器系统(FDSA，FDSB)，其中，1.1.为了对物体(7)进行扫描，所述相互角度错开地设置的焦点/检测器系统(FDSA，FDSB)如下地扫描该物体：它们绕CT系统(1)的系统轴线(9)转动，并根据所测得的焦点(FA，FB)的辐射衰减而确定单个射线(S)的多个吸收值(a)，并且1.2.借助于所获得的吸收数据重建该物体的CT照片或CT立体数据，其特征在于，1.3.对于焦点/检测器系统(FDSA，FDSB)的每条直接射线(S)，寻找一条偏移180°的相同焦点/检测器系统(FDSA，FDSB)的反向互补射线(S’)，在该互补射线不是直接地从检测器数据提取出的情况下，通过对该焦点/检测器系统(FDSA，FDSB)的空间位置和取向类似的射线的吸收数据的内插法而获得所述的反向互补射线，1.4.从每条直接射线(S)的衰减后的强度值(I)中减去互补射线(S’)的强度值(I’)，并且1.5.将所述直接射线(S)的强度值(I)与所述互补射线(S’)的强度值(I’)之差的正值部分解释为散射辐射分量(Δ)，并将其从直接射线(S)的强度值(I)中扣除，并从中确定所述直接射线(S)的校正后的吸收值(akorr)，1.6.从所述校正后的吸收值(akorr)中重建CT照片或CT立体数据。