[发明专利]电子产品生产线的改进样板比对的自动化侦测方法

摘要

一种电子产品生产线的改进样板比对的自动化侦测方法，包括下列步骤：设定步骤；载入步骤；调整步骤；比对步骤；完成步骤。其应用于液晶显示器检测各类微粒或十字标记定位，有更精确及更快速的处理结果；并可利用任意形状的设计样板作比对处理，以及针对所设定的特定灰阶值，做忽略运算处理，提高目标样板特征部分的差异度，再加以任意形状的特征权重矩阵屏蔽，将目标样板特征加以强化，让比对运算的辨识率更为提高，如此兼具目标样板具有任意形状的特征权重屏蔽部、目标样板可作忽略灰阶值设定、目标样板具有任意形状的屏蔽矩阵部，以及可自动调整目标样板的亮度与对比度等优点。

主权项

1.一种电子产品生产线的改进样板比对的自动化侦测方法，其特征在于，包括下列步骤：(1).设定步骤：取一目标样板，将该目标样板定义为Ti，j，k(p，q)，其大小为P×Q，1≤i≤3，1≤p≤P，1≤q≤Q，先设定该目标样板的预定忽略灰阶值及其分布范围，再设定该目标样板的预定特征权重矩阵，以完成一预定的目标样板；(2).载入步骤：加载一待测影像，并将该待测影像定义为Ii(x，y)，大小为M×N，1≤i≤3；(3).调整步骤：依计算该待测影像的区域灰阶值所得数值，自动调整该目标样板的亮度及对比度至接近该待测影像的预定值；(4).比对步骤：比对目标样板与预定的待测影像是否相符；(5).完成步骤：于该待测影像上比对得到吻合的目标样板。