[发明专利]光学传感器的校正值取得方法及记录装置有效
申请号: | 200610151640.8 | 申请日: | 2006-09-07 |
公开(公告)号: | CN1927594A | 公开(公告)日: | 2007-03-14 |
发明(设计)人: | 原田和政;桥井一博;中田聪;足立裕尚 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | B41J11/42 | 分类号: | B41J11/42;B41J25/24;B41J29/38;B41J29/42;B41J2/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 汪惠民 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光学传感器的校正值取得方法及记录装置,其中,备有可检测出纸张搬送路径的反射率差的光学传感器的记录装置,取得所传送的纸张上端边缘位置,并印刷校正值取得图案(200),所述校正值取得图案包括位于从取得的上端边缘位置在副扫描方向上离开距离Lr且平行于主扫描方向的基准线,并以平行于主方向的线在副方向隔开一定间隔的方式以台阶状记录而构成。在作业者通过实测对记录于在副扫描方向上从纸张上端离开距离Lr的位置的线进行指定后,将该指定线的编号发送到记录装置。记录装置,根据接收的线编号来求取指定的线和基准线的副扫描方向间隔Hr,并将该副扫描方向间隔Hr作为所述光学传感器的校正值Hp的绝对值。 | ||
搜索关键词: | 光学 传感器 校正 取得 方法 记录 装置 | ||
【主权项】:
1、一种光学传感器的校正值取得方法,其取得校正值Hp,所述校正值Hp用于对记录装置中的光学传感器的检测误差进行校正,所述记录装置,备有: 托架,其具备对被记录介质进行记录的记录头并沿主扫描方向被往复驱动;被记录介质搬送机构,其在搬送被记录介质的搬送路径中,被设置在所述记录头的上游侧,并将被记录介质向着与所述记录头相面对的区域搬送;被记录介质排出机构,其在所述搬送路径中被设置在所述记录头的下游侧,将进行了记录后的被记录介质排出;光学传感器,其在所述托架中被设置在与所述搬送路径相面对的位置,并通过对所述搬送路径的光反射率的变化进行检测而检测被记录介质的边缘;托架位置检测机构,其检测所述托架的主扫描方向的位置;搬送量检测机构,其对借助于所述被记录介质搬送机构而实现的被记录介质的搬送量进行检测;以及控制机构,其被输入所述光学传感器、所述托架位置检测机构、所述搬送量检测机构的各自的检测信息,并根据该输入的信息驱动所述托架及所述被记录介质搬送机构,并且受理来自外部的输入信息,在所述记录装置中,基于所述光学传感器的检测信息,而取得所被给送的被记录介质的上端或下端的边缘位置,在被记录介质上形成了校正值取得图案后,将该被记录介质排出,所述校正值取得图案,包含位于在副扫描方向上从所取得的边缘位置离开距离Lr并平行于主扫描方向的基准线,且以平行于主扫描方向的线在副扫描方向上隔开一定间隔的方式以台阶状记录而形成,通过作业者的实测,而对所述校正值取得图案中被记录于在副扫描方向上、从被记录介质的上端或下端离开距离Lr的位置的线进行指定后,通过作业者的输入操作将有关该指定的线是否是所述校正值取得图案中的其中一条线的信息,发送到所述控制机构,所述控制机构,基于与所述被指定的线相关的信息,来求取所述被指定的线和所述基准线的副扫描方向间隔Hr,将该副扫描方向间隔Hr作为所述光学传感器的校正值Hp的绝对值。
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