[发明专利]自动分析装置有效
| 申请号： | 200610151669.6 | 申请日： | 2006-09-11 |
| 公开（公告）号： | CN1932515A | 公开（公告）日： | 2007-03-21 |
| 发明（设计）人： | 折桥敏秀;高木由充;笠间干雄 | 申请（专利权）人： | 株式会社日立高新技术 |
| 主分类号： | G01N33/48 | 分类号： | G01N33/48;G01N35/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 | 代理人： | 许静 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种分析装置，在精度管理试样的测定数据在预先设定的基准上下限值的范围以外时，通过简化校准或精度管理试样的再测定，可以迅速进行装置的精度管理的应对处理，而且可以继续实现高可靠性的分析。具有以下的功能：比较预先设定的精度管理试样的测定数据的基准上下限值和精度管理试样的测定数据，如果测定数据在基准上下限值之外，则推荐校准的再测定，用户可以通过操作画面进行确认以及可以容易地指示测定委托。另外，具有以下的单元：可以确认基准上下限值的范围之外的精度管理试样的测定数据以及可以容易地指示该分析项目的精度管理试样的再测定。 | ||
| 搜索关键词： | 自动 分析 装置 | ||
【主权项】：
1.一种自动分析装置，其特征在于，具有：基准范围设定单元，预先设定具有已知成分的精度管理试样的测定数据的基准范围；校准设定单元，在所测定的分析项目的测定数据未收容在由所述基准范围设定单元所设定的基准上下限值的范围内时，预先设定对所述分析项目的试剂实施的校准的方法。
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