[发明专利]CMOS图像传感器及其制造方法无效
申请号: | 200610152394.8 | 申请日: | 2006-09-28 |
公开(公告)号: | CN1941394A | 公开(公告)日: | 2007-04-04 |
发明(设计)人: | 全寅均 | 申请(专利权)人: | 东部电子株式会社 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146;H01L21/822 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 余刚 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | 本发明提供了一种CMOS图像传感器及其制造方法。该CMOS图像传感器包括光电二极管、转移晶体管、复位晶体管、激励晶体管、和选择晶体管。器件隔离层形成在第一导电型衬底上。转移晶体管、复位晶体管、激励晶体管、和选择晶体管的栅电极形成在衬底的有源区上,在这些栅电极之间设有栅极绝缘层。第一扩散区在有源区的第一区中由第二导电型形成,其中,第一区不包括转移晶体管和复位晶体管之间的浮动扩散区和光电二极管区。第二扩散区以低于第二导电型第一扩散区浓度的浓度在浮动扩散区中由第二导电型形成。 | ||
搜索关键词: | cmos 图像传感器 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
1.一种具有光电二极管、转移晶体管、复位晶体管、激励晶体管、和选择晶体管的CMOS图像传感器,所述CMOS图像传感器包括:器件隔离层,形成在第一导电型衬底的器件隔离区上,在所述第一导电型衬底中限定了有源区和所述器件隔离区;所述转移晶体管、所述复位晶体管、所述激励晶体管、和所述选择晶体管的栅电极,形成在所述有源区上,在这些栅电极之间设有栅极绝缘层;第一扩散区,在所述有源区的第一区中由第二导电型形成;以及第二扩散区,在所述转移晶体管和所述复位晶体管之间的浮动扩散区中由第二导电型形成,其中所述第二扩散区具有低于第一扩散区浓度的浓度。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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