[发明专利]一种测试芯片的方法及系统无效
| 申请号： | 200610152451.2 | 申请日： | 2006-09-29 |
| 公开（公告）号： | CN1924823A | 公开（公告）日： | 2007-03-07 |
| 发明（设计）人： | 黄鑫;游明琦 | 申请（专利权）人： | 北京中星微电子有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/267 | 分类号： | G06F11/267 |
| 代理公司： | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人： | 宋志强;麻海明 |
| 地址： | 100083北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测试芯片的方法，该方法包括：A.设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；B.可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；C.待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。本发明进一步包括把待测芯片处理的结果和软件验证工具(Cmodule)对输入数据进行处理的结果进行比对，还包括通过比对待测芯片对输入数据进行处理的结果和输入数据来观察待测芯片中处理算法实现的效果。本发明同时公开了用该方法实现测试芯片的系统。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测试 芯片 方法 系统 | ||
【主权项】：
1、一种测试芯片的方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：A、设置具有模拟传感器的输出信号功能的可编程逻辑单元；B、可编程逻辑单元接收输入数据，并模拟传感器的输出信号，可编程逻辑单元把此输出信号和输入数据发送给待测芯片；C、待测芯片用模拟传感器的输出信号接收输入数据，并对输入数据进行处理。
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