[发明专利]具有优化的边缘结构的DMOS晶体管有效

专利信息
申请号: 200610153123.4 申请日: 2006-12-07
公开(公告)号: CN1979897A 公开(公告)日: 2007-06-13
发明(设计)人: 弗朗茨·迪茨;米夏埃多·格拉夫;斯特凡·施万特斯 申请(专利权)人: ATMEL德国有限公司
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 曾立
地址: 德国海*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 发明说明了一种横向DMOS晶体管(10),具有一个第一导电类型的第一区域(12),该第一区域被一个第二导电类型的第二区域(14)在侧面围绕,其中在两个区域(12,14)之间的一个边界线(16)具有彼此相对的直的区段(16.1)以及将这些直的区段(16.1)相连接的、至少部分弯曲的区段(16.2),该DMOS晶体管(10)还具有一个用作场区的第一介电结构(20),该第一介电结构被嵌入该第一区域(12)中并且围绕该第一区域的一个部分区域(22)。该晶体管(10)的特征在于,该第一介电结构和该边界线之间的一个第一距离(d1)沿着这些直的区段(16.1)比沿着这些弯曲的区段(16.2)大。
搜索关键词: 具有 优化 边缘 结构 dmos 晶体管
【主权项】:
1.横向DMOS晶体管(10),具有一个第一导电类型的第一区域(12),该第一区域被一个第二导电类型的第二区域(14)在侧面围绕,其中在两个区域(12,14)之间的一个边界线(16)具有彼此相对的直的区段(16.1)以及将这些直的区段(16.1)相连接的、至少部分弯曲的区段(16.2),该DMOS晶体管(10)还具有一个用作场区的第一介电结构(20),该第一介电结构被嵌入该第一区域(12)中并且围绕该第一区域的一个部分区域(22),其特征在于,该第一介电结构(20)和该边界线(16)之间的一个第一距离(d1)沿着这些直的区段(16.1)比沿着这些弯曲的区段(16.2)大。
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