[发明专利]半导体集成电路及其控制方法有效
| 申请号： | 200610153174.7 | 申请日： | 2006-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN1979434A | 公开（公告）日： | 2007-06-13 |
| 发明（设计）人： | 下冈正明 | 申请（专利权）人： | 恩益禧电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/00 | 分类号： | G06F11/00;G06F12/16;G01R31/3185 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 陆锦华;穆德骏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种半导体集成电路包括目标电路，该目标电路包括至少具有子扫描链级的扫描链，用于在扫描通路测试模式中响应于时钟信号依次移位测试数据，并且每个子扫描链包括串联连接的第一触发器。备份控制电路控制目标电路和存储器，使得在保存模式中，通过子扫描链，将指出目标电路内部状态的数据的多个子内部状态数据存储在存储器中，作为多个写入数据，并且在恢复模式中将多个子内部状态数据从存储器中读出作为多个读取数据，并且设定在子扫描链中。 | ||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 及其 控制 方法 | ||
【主权项】：
1.一种半导体集成电路，包括：目标电路，其至少包括具有子扫描链级的扫描链，用于在扫描通路测试模式中响应于时钟信号依次移位测试数据，每个所述子扫描链包括串联连接的第一触发器；以及备份控制电路，其被构成为用于控制所述目标电路和存储器，使得在保存模式中，通过所述子扫描链，将指出所述目标电路内部状态的多个子内部状态数据存储在所述存储器中，作为多个写入数据，并且在恢复模式中将所述多个子内部状态数据从所述存储器中读出作为多个读取数据，并且设定在所述子扫描链中。
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