[发明专利]掩膜形成方法及信息记录媒体制造方法无效

专利信息
申请号: 200610153611.5 申请日: 2006-09-06
公开(公告)号: CN1928994A 公开(公告)日: 2007-03-14
发明(设计)人: 海津明政;大场和晴;藤田实;高井充 申请(专利权)人: TDK股份有限公司
主分类号: G11B5/84 分类号: G11B5/84;G03F7/26
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 沈昭坤
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明提供能降低掩膜的形成成本的掩膜形成方法。将形成凹凸图形的掩模形成在中间体10之上时,依次实行在中间体10之上涂布紫外线硬化型的涂液(放射性硬化型的涂液),从而形成涂膜31的涂膜形成处理,对涂膜31照射紫外线52a(放射线)的紫外线照射处理(放射线照射处理),以及将压模中的凹凸图形的形成面压到所述涂膜31上,使压模的凹凸图形转写到涂膜31的图形转写处理,从而形成掩膜的凹凸图形。
搜索关键词: 形成 方法 信息 记录 媒体 制造
【主权项】:
1一种形成掩模的凹凸图形的掩模形成方法,其特征在于,将形成凹凸图形的掩模形成在基材之上时,依次实行在所述基材上涂布放射线硬化型的涂液,从而形成涂膜的涂膜形成处理,对所述涂膜照射放射线的放射线照射处理,以及将压模中的凹凸图形的形成面压到所述涂膜上,使该凹凸图形转写到该涂膜上的图形转写处理。
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