[发明专利]位移检测器件无效

专利信息
申请号: 200610154224.3 申请日: 2006-09-15
公开(公告)号: CN1936591A 公开(公告)日: 2007-03-28
发明(设计)人: 高田良晶;落合秀行;西野庆一;斋藤正胜 申请(专利权)人: 日立金属株式会社
主分类号: G01P15/12 分类号: G01P15/12;H01L29/84;B81B7/02
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 康建忠
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 在具有用于调整板的IC芯片的位移检测器件中,在组装或使用该器件期间,硅破裂碎片可能会从松动切屑上掉落,并影响位移检测器件的性能。通过设置芯片的IC芯片晶片上的研磨迹线与IC芯片的侧脊上的垂直线所成的角度小于45度,更优选为10-45度,可以减少IC芯片的侧脊上的切屑,包括松动切屑。可避免使用在侧脊上具有松动切屑的IC芯片用于调整板,并且可以提供高度可靠的位移检测器件。
搜索关键词: 位移 检测 器件
【主权项】:
1、一种位移检测器件,包括:位移检测元件,其具有将通过外力而变形的柔性可变形部分,并测量所述柔性可变形部分的位移以发射检测信号;IC芯片,其具有用于电处理来自位移检测元件的检测信号的电子电路,并设置成使得IC芯片的后表面面向所述柔性可变形部分,并与所述柔性可变形部分具有预定间隙,从而机械地防止所述柔性可变形部分过度变形;以及安装所述位移检测元件和IC芯片的保护壳;其中,所述IC芯片的后表面具有与IC芯片的侧脊上的垂直线成0-45度角的研磨迹线。
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