[发明专利]位移检测器件无效
申请号: | 200610154224.3 | 申请日: | 2006-09-15 |
公开(公告)号: | CN1936591A | 公开(公告)日: | 2007-03-28 |
发明(设计)人: | 高田良晶;落合秀行;西野庆一;斋藤正胜 | 申请(专利权)人: | 日立金属株式会社 |
主分类号: | G01P15/12 | 分类号: | G01P15/12;H01L29/84;B81B7/02 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 康建忠 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在具有用于调整板的IC芯片的位移检测器件中,在组装或使用该器件期间,硅破裂碎片可能会从松动切屑上掉落,并影响位移检测器件的性能。通过设置芯片的IC芯片晶片上的研磨迹线与IC芯片的侧脊上的垂直线所成的角度小于45度,更优选为10-45度,可以减少IC芯片的侧脊上的切屑,包括松动切屑。可避免使用在侧脊上具有松动切屑的IC芯片用于调整板,并且可以提供高度可靠的位移检测器件。 | ||
搜索关键词: | 位移 检测 器件 | ||
【主权项】:
1、一种位移检测器件,包括:位移检测元件,其具有将通过外力而变形的柔性可变形部分,并测量所述柔性可变形部分的位移以发射检测信号;IC芯片,其具有用于电处理来自位移检测元件的检测信号的电子电路,并设置成使得IC芯片的后表面面向所述柔性可变形部分,并与所述柔性可变形部分具有预定间隙,从而机械地防止所述柔性可变形部分过度变形;以及安装所述位移检测元件和IC芯片的保护壳;其中,所述IC芯片的后表面具有与IC芯片的侧脊上的垂直线成0-45度角的研磨迹线。
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