[发明专利]差示折光计及其调节方法有效
| 申请号： | 200610154306.8 | 申请日： | 2006-09-20 |
| 公开（公告）号： | CN1940533A | 公开（公告）日： | 2007-04-04 |
| 发明（设计）人： | 中村恭章 | 申请（专利权）人： | 株式会社岛津制作所 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41;G01N30/74 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 马高平;杨梧 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种差示折光计及其调节方法，所述方法包括以下步骤：(a)均等地将所述狭缝图像聚焦在光电检测器的分立部分上；(b)减少测量光束的光量；(c)使狭缝图像在光电检测器上平行移动预定位移量；以及(d)增加测量光束的光量。 | ||
| 搜索关键词： | 折光 及其 调节 方法 | ||
【主权项】：
1.一种调节差示折光计的方法，在所述差示折光计中，已经通过狭缝的测量光束透射通过具有被相对于测量光束的光轴倾斜的分隔壁分开的两个单元的流路单元，从而，样品溶液通过所述单元中的一个，而参考溶液通过所述单元中的另一个，已经透射通过的测量光束被反射镜反射并再次透射通过所述流路单元，并且测量光束以狭缝图像形式聚焦而在所述光电检测器的分立部分上延伸，由此检测所述狭缝图像的位移，所述方法包括如下步骤：(a)均等地将所述狭缝图像聚焦在所述光电检测器的分立部分上；(b)减少测量光束的光量；(c)使狭缝图像在光电检测器上平行移动预定位移量；以及(d)增加测量光束的光量。
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