[发明专利]一体化自动集成测试系统有效
| 申请号： | 200610154952.4 | 申请日： | 2006-11-30 |
| 公开（公告）号： | CN1971651A | 公开（公告）日： | 2007-05-30 |
| 发明（设计）人： | 黄克强;安庆敏;吴明光 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G08C19/00 | 分类号： | G08C19/00;G08C19/16 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种一体化自动集成测试系统包括测试信号发生单元、硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、数据通信单元、传感器，测试信号发生单元包括DSP数字处理器、D/A转换器；测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、硬逻辑门主控单元相接，传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接，硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。本发明测试精度高，成本低，外接连线减少，具有良好的易用性，测试系统的可靠性好和稳定性高。 | ||
| 搜索关键词： | 一体化 自动 集成 测试 系统 | ||
【主权项】：
1.一种一体化自动集成测试系统，其特征在于，它包括测试信号发生单元(1)、硬逻辑门主控单元(2)、测试对象响应信号的采集单元(3)、数据存储单元(4)、数据通信单元(5)、传感器(6)，测试信号发生单元(1)包括DSP数字处理器、D/A转换器；测试信号发生单元与硬逻辑门主控单元、测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元、硬逻辑门主控单元相接，传感器与测试对象响应信号的采集单元、数据存储单元相接，硬逻辑门主控单元与数据通信单元相接。
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