[发明专利]用于多端口存储设备的测试电路无效
| 申请号： | 200610159394.0 | 申请日： | 2006-09-28 |
| 公开（公告）号： | CN1945746A | 公开（公告）日： | 2007-04-11 |
| 发明（设计）人： | 许晃;都昌镐 | 申请（专利权）人： | 海力士半导体有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/00 | 分类号： | G11C29/00;G11C8/16 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 吕晓章;李晓舒 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种半导体存储设备，包括：读取总线，用于传送读取数据；写入总线，用于传送写入数据；和临时数据存储单元，连接在读取总线和写入总线之间，并且由在测试模式期间被使能的测试模式信号控制。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 多端 存储 设备 测试 电路 | ||
【主权项】：
1.一种半导体存储设备，包括：读取总线，用于传送读取数据；写入总线，用于传送写入数据；和临时数据存储单元，连接在读取总线和写入总线之间，并且由在测试模式期间被使能的测试模式信号控制。
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