[发明专利]光学测量装置无效
申请号: | 200610163046.0 | 申请日: | 2006-12-01 |
公开(公告)号: | CN1975379A | 公开(公告)日: | 2007-06-06 |
发明(设计)人: | 加纳克晃;安部元;滨田裕介 | 申请(专利权)人: | 三浦工业株式会社 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/51 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 崔幼平 |
地址: | 日本爱媛*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明实现了试样液的取样机构及清洁液的生成机构一体化了的紧凑的光学测量装置。该光学测量装置(1)使来自发光元件(51)的光通过第一导光部(44)向设置在测定单元(5)中的测定室(18)内的试样液照射,并使来自试样液的光通过第二导光部(45)由受光元件(56)检测,其中,具有:流路部(19),形成在前述测定单元(5)中,将试样液导入前述测定室(18),或从前述测定室(18)导出;流通控制部(3),安装在前述测定单元(5)中,开闭前述流路部(19);过滤部(4),与前述测定单元(5)连接,与前述测定室(18)连通。 | ||
搜索关键词: | 光学 测量 装置 | ||
【主权项】:
1.一种光学测量装置,使来自发光元件的光通过第一导光部向设置在测定单元中的测定室内的试样液照射,并使来自试样液的光通过第二导光部由受光元件检测,其特征在于,具有:流路部,形成在前述测定单元中,将试样液导入前述测定室,或从前述测定室导出;流通控制部,安装在前述测定单元中,开闭前述流路部;过滤部,与前述测定单元连接,与前述测定室连通。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三浦工业株式会社,未经三浦工业株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610163046.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:配备转向绝缘体的同轴连接器
- 下一篇:电路连接材料