[发明专利]光学测量装置无效

专利信息
申请号: 200610163046.0 申请日: 2006-12-01
公开(公告)号: CN1975379A 公开(公告)日: 2007-06-06
发明(设计)人: 加纳克晃;安部元;滨田裕介 申请(专利权)人: 三浦工业株式会社
主分类号: G01N21/17 分类号: G01N21/17;G01N21/51
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 崔幼平
地址: 日本爱媛*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明实现了试样液的取样机构及清洁液的生成机构一体化了的紧凑的光学测量装置。该光学测量装置(1)使来自发光元件(51)的光通过第一导光部(44)向设置在测定单元(5)中的测定室(18)内的试样液照射,并使来自试样液的光通过第二导光部(45)由受光元件(56)检测,其中,具有:流路部(19),形成在前述测定单元(5)中,将试样液导入前述测定室(18),或从前述测定室(18)导出;流通控制部(3),安装在前述测定单元(5)中,开闭前述流路部(19);过滤部(4),与前述测定单元(5)连接,与前述测定室(18)连通。
搜索关键词: 光学 测量 装置
【主权项】:
1.一种光学测量装置,使来自发光元件的光通过第一导光部向设置在测定单元中的测定室内的试样液照射,并使来自试样液的光通过第二导光部由受光元件检测,其特征在于,具有:流路部,形成在前述测定单元中,将试样液导入前述测定室,或从前述测定室导出;流通控制部,安装在前述测定单元中,开闭前述流路部;过滤部,与前述测定单元连接,与前述测定室连通。
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