[发明专利]半导体存储器件以及半导体存储器件的工作方法有效

专利信息
申请号: 200610163741.7 申请日: 2006-11-24
公开(公告)号: CN1971761A 公开(公告)日: 2007-05-30
发明(设计)人: 岩田周祐;黑川义元 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: G11C11/41 分类号: G11C11/41;H01L27/11
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 浦柏明;刘宗杰
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 当在TFT等的晶体管特性不均匀以及从RF电路供给的电源不稳定的情况下制造SRAM时,在现有技术的一个存储单元具有六个晶体管的结构中,当读出时产生存储单元保持的值被改写的误写入。SRAM的存储单元通过使写入电路和读出电路分开,可以进行稳定的工作。此外,考虑写入的时序,由此,提供一种不产生误写入并可以更可靠地进行写入工作的SRAM。
搜索关键词: 半导体 存储 器件 以及 工作 方法
【主权项】:
1.一种半导体存储器件,包括:模拟开关;第一反相器;第二反相器;以及时钟反相器,其中:所述模拟开关的第一端子电连接到第一数据线,所述模拟开关的第二端子电连接到所述第一反相器的输入端子、所述第二反相器的输出端子、以及所述时钟反相器的输入端子,所述第一反相器的输出端于电连接到所述第二反相器的输入端子,所述时钟反相器的输出端子电连接到第二数据线,每个所述模拟开关和所述时钟反相器电连接到至少一个字线,并且电连接到所述模拟开关的所述字线不同于电连接到所述时钟反相器的所述字线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社半导体能源研究所,未经株式会社半导体能源研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610163741.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top