[发明专利]用于检验物体的方法和装置无效
| 申请号： | 200610163907.5 | 申请日： | 2006-10-24 |
| 公开（公告）号： | CN1955719A | 公开（公告）日： | 2007-05-02 |
| 发明（设计）人： | 胡庆英;D·W·哈米尔顿;K·G·哈丁;J·B·洛斯 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N21/00 | 分类号： | G01N21/00;G01N21/95;G01N21/41;G01B11/00;G01B11/02;G01B11/24;G01M15/00;G01M15/02 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 李亚非;梁永 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于检验物体(12)的方法(38)包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检验 物体 方法 装置 | ||
【主权项】：
1.一种用于检验物体(12)的方法(38)，所述方法包括：从液晶显示(LCD)装置和硅基液晶(LCOS)装置的至少一个中发射(40)光；相移(42)从LCD装置和LCOS装置的至少一个中发射的光；将相移的光投影(44)到物体的表面上；利用成像传感器(24)接收(46)从物体表面反射的光；以及分析(50)由成像传感器接收到的光以便于检验该物体的至少一部分。
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