[发明专利]对称阵列的制备方法无效

专利信息
申请号: 200610164104.1 申请日: 2006-09-08
公开(公告)号: CN1959991A 公开(公告)日: 2007-05-09
发明(设计)人: 埃利·鲁斯基;伯阿兹·埃坦 申请(专利权)人: 赛芬半导体有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L23/522
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 于辉
地址: 以色列*** 国省代码: 以色列;IL
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摘要: 发明提供一种非易失性存储设备,其包括多个字线区域、氧化物-氮化物-氧化物(ONO)层和保护元件,每个字线区域通过接触区相互隔开,所述ONO层位于所述字线区域内并且至少部分地位于所述接触区内,当在外围区域中形成隔离层时生成所述保护元件,以保护在所述接触区中ONO层下的硅。本发明还提供一种非易失性存储设备,其包括多个字线区域和位线氧化物,每个所述字线区域通过接触区相互隔开,所述位线氧化物的高度是相邻位线氧化物之间距离的至少四分之一。
搜索关键词: 对称 阵列 制备 方法
【主权项】:
1、一种非易失性存储设备,其包括:多个字线区域,每个所述字线区域通过接触区相互隔开;氧化物-氮化物-氧化物(ONO)层,所述ONO层位于所述字线区域内并且至少部分地位于所述接触区内;和保护元件;当在外围区域中形成隔离层时生成所述保护元件,以保护在所述接触区中的所述ONO层下的硅。
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