[发明专利]直接分析植物组织切片化学成分的方法无效

专利信息
申请号: 200610164872.7 申请日: 2006-12-07
公开(公告)号: CN101196491A 公开(公告)日: 2008-06-11
发明(设计)人: 蔡宗苇;吴巍;赵中振;梁之桃 申请(专利权)人: 蔡宗苇
主分类号: G01N27/64 分类号: G01N27/64;G01N30/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 代理人: 周国城
地址: 香港九龙窝打老*** 国省代码: 中国香港;81
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摘要: 发明一种直接分析植物组织切片化学成分的方法,涉及化学成分分析技术,包括步骤:S1、将待检植物切成10-20μm厚的切片,取一片切片放到基质辅助激光解析飞行时间质谱仪的靶上;S2、配制基质溶液;S3、用移液器将基质溶液加到植物组织切片上;S4、将靶和点有基质溶液的组织切片,放到真空干燥器中干燥;S5、将干燥后的靶和待检植物组织切片,直接放入基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱仪进行分析,即得到植物切片所含化学成分的信息。本发明的分析方法快捷,方便,高效,全面,无需样品化学处理,避免了传统样品处理和分析方法耗时长,微量成分难于分析,可能破坏化学成分的缺点。
搜索关键词: 直接 分析 植物 组织 切片 化学成分 方法
【主权项】:
1.一种直接分析植物组织切片化学成分的方法,其特征在于:包括步骤:S1、将待检植物用切片机切成10-20μm厚的切片,将切片放到基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱仪的靶上;S2、用移液器将基质溶液加到植物组织切片上,用量为≤30μl/cm2;S3、将靶和点有基质溶液的组织切片,放到真空干燥器中,干燥后待测;S4、将干燥后的靶和待检植物组织切片,放入基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱仪进行直接分析,用基质辅助激光解析电离-飞行时间质谱测定,方法是:在切片上顺时针选取10个点,每个点采集30次,累加10个点采集的数据为测定质谱图,即得到植物切片所含化学成分的信息。
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