[发明专利]一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统无效
| 申请号： | 200610164886.9 | 申请日： | 2006-12-07 |
| 公开（公告）号： | CN101196559A | 公开（公告）日： | 2008-06-11 |
| 发明（设计）人： | 甘华东;郑厚植;孙宝权;赵建华 | 申请（专利权）人： | 中国科学院半导体研究所 |
| 主分类号： | G01R33/12 | 分类号： | G01R33/12;G01R31/00;G01R31/26;G01M11/00;G01M11/02 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人： | 周长兴 |
| 地址： | 100083北*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统，其结构为：一飞秒激光器激发超连续光谱白光，通过一单色仪进行分光，成为波长可以调节的单色光，该单色光通过一个消光系数为10－5的格兰－泰勒棱镜纯化偏振；一光弹调制器，其光轴与格兰－泰勒棱镜的光轴成45°角，使光成为左旋和右旋交替变化的圆偏振光；一样品，放在低温磁体的中心；圆偏振光聚焦到样品上，从样品反射回来的反射光聚焦到第一光二极管探测器上；一锁相放大器，其参考信号由光弹调制器的控制器提供，用于测左旋和右旋圆偏振光的光强差。本发明不仅可以测量材料的磁光圆偏振二向色性的频谱、磁场强度和温度依赖性，还可以测量磁性半导体的磁晶各向异性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 可调整 测量 几何 磁光圆 偏振 二向色性 系统 | ||
【主权项】：
1.一种可调整测量几何的磁光圆偏振二向色性测量系统，其结构为：一飞秒激光器激发超连续光谱白光，通过一单色仪进行分光，成为波长可以调节的单色光，该单色光通过一个消光系数为10-5的格兰-泰勒棱镜纯化偏振；一光弹调制器，其光轴与格兰-泰勒棱镜的光轴成45°角，使光成为左旋和右旋交替变化的圆偏振光；一样品，放在低温磁体的中心；圆偏振光聚焦到样品上，从样品反射回来的反射光聚焦到第一光二极管探测器上；一锁相放大器，其参考信号由光弹调制器的控制器提供，用于测左旋和右旋圆偏振光的光强差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院半导体研究所，未经中国科学院半导体研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610164886.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：轴承滚子链
- 下一篇：防火用的膨胀性多组分环氧树脂涂料及其用途
