[发明专利]可变裂缝测试装置及其测试方法无效

专利信息
申请号: 200610164962.6 申请日: 2006-12-08
公开(公告)号: CN101196481A 公开(公告)日: 2008-06-11
发明(设计)人: 林东;李元景;康克军;苗齐田;赵自然;张丽;刘以农;吴万龙;罗希雷;唐乐 申请(专利权)人: 同方威视技术股份有限公司;清华大学
主分类号: G01N23/18 分类号: G01N23/18;G01N21/88
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人: 刘长威
地址: 100084北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种测试无损检测设备的裂缝检测能力的装置及其测试方法。本发明可变裂缝测试装置包括两片对称布置的厚度渐变的裂缝形成板、两根紧固螺栓以及插装在两片裂缝形成板之间的两把厚度相同的塞规,其中两把塞规分布在裂缝形成板的两端部,通过改变塞规的厚度来改变两片裂缝形成板之间裂缝的宽度;在两片裂缝形成板的上表面对应地设置有厚度指示线,其中一个裂缝形成板上设有若干个裂缝深度指示通孔。本发明是一个可变裂缝宽度的、且在同一裂缝宽度下有不同裂缝深度的测试装置。适合于射线成像无损检测系统检测裂缝的特点,通过调整本发明的装置中裂缝的宽度,经无损检测设备检测成像,查看此成像便可确定检测设备的裂缝检测能力。
搜索关键词: 可变 裂缝 测试 装置 及其 方法
【主权项】:
1.可变裂缝测试装置,其特征在于包括两片对称布置的厚度渐变的裂缝形成板(1、2)和连接两片裂缝形成板(1、2)的两根紧固螺栓(3)以及插装在两片裂缝形成板(1、2)之间的两把厚度相同的塞规(4),其中两把塞规(4)分布在裂缝形成板的两端部,通过改变塞规(4)的厚度来改变两片裂缝形成板(1、2)之间裂缝的宽度;在两片裂缝形成板(1、2)的上表面对应地设置有厚度指示线(6),其中一个裂缝形成板上设有若干个裂缝深度指示通孔(5)。
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