[发明专利]高精度多功能宽光谱辐射比较系统无效
申请号: | 200610166443.3 | 申请日: | 2006-12-19 |
公开(公告)号: | CN1995971A | 公开(公告)日: | 2007-07-11 |
发明(设计)人: | 周磊;郑小兵 | 申请(专利权)人: | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/17 | 分类号: | G01N21/17;G01N21/01 |
代理公司: | 合肥华信专利商标事务所 | 代理人: | 余成俊 |
地址: | 230031安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | 本发明公开了一种高精度多功能宽光谱辐射比较系统,包括有光源,入射光路,单色仪,光谱响应率测量模块,光谱透过率测量模块。将探测器光谱响应率、物质材料光谱特性等等测量对象有机的结合在一起,充分利用双光栅单色仪DK242和基于低温辐射计传递的标准探测器,采用特殊的光路设计,实现光学传感器与材料高精度光谱特性测量。很好的解决了长期以来不确定度分析困难的矛盾,有效的提高了测量精确度。通过大量实验对系统不确定度进行了分析,其系统不确定度为10-3~10-4量级。为以后各种传感器定标、材料光谱特性分析提供了有力的理论参考与实验仪器,同时对国内光谱仪器设计、生产领域有很大的借鉴和指导意义。 | ||
搜索关键词: | 高精度 多功能 光谱 辐射 比较 系统 | ||
【主权项】:
1、高精度多功能宽光谱辐射比较系统,包括有光源,入射光路,单色仪,光谱响应率测量模块,光谱透过率测量模块,其特征在于:所述的入射光路包括二个反射镜和二个离轴抛物镜,其光路走向是光源的出射光束经反射镜、离轴抛物镜、反射镜、离轴抛物镜依次反射,最终耦合进入单色仪,在反射镜与离轴抛物镜之间的光路中安装有棱镜或偏振片,在离轴抛物镜反射至单色仪的光路中,安装有光斩波器;从单色仪出射狭缝出来的单色光进入光谱响应率测量模块或光谱透过率测量模块;所述的光谱响应率测量模块是由避光箱和对向错开安装在避光箱内的二个离轴抛物镜、应用探测器和标准传递探测器组成,应用探测器和标准传递探测器安装在电动平移台上,使得标准传递探测器或应用探测器均可接收经过二个离轴抛物镜反射后的单色光;光谱透过率测量模块由一个平面反射镜、二个离轴抛物镜、样本轮、探测器单元组成,探测器单元由积分球和单片硅光电探测器构成,进入光谱透过率测量模块的的单色光依次经过离轴抛物镜、平面镜、样本轮、离轴抛物镜反射到积分球的入光口,最后从积分球的出光口由硅光电探测器接收,所述的样本轮是由加载待测滤光片的转动轮构成,由步进电机驱动旋转。
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