[发明专利]组合存储单元有效

专利信息
申请号: 200610166937.1 申请日: 2006-12-15
公开(公告)号: CN101202100A 公开(公告)日: 2008-06-18
发明(设计)人: 邱智康;石维强 申请(专利权)人: 智原科技股份有限公司
主分类号: G11C7/00 分类号: G11C7/00;G11C8/12;G11C11/41;G11C17/10;H01L27/105
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 吕晓章;李晓舒
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种组合存储单元,包括静态随机存取存储单元及掩膜式只读存储编码器,静态随机存取存储单元包括第一与第二反相器,第一反相器包括第一P型金属氧化物半导体晶体管与第一N型金属氧化物半导体晶体管,第二反相器包括一第二P型金属氧化物半导体晶体管与一第二N型金属氧化物半导体晶体管,掩膜式只读存储编码器与该第一与第二P型金属氧化物半导体晶体管的源极耦接或与该第一与第二N型金属氧化物半导体晶体管的源极耦接,并决定存储单元为随机存取存储模式或只读存储模式。
搜索关键词: 组合 存储 单元
【主权项】:
1.一种组合存储单元,有一随机存取存储模式与一只读存储模式,并有第一与第二逻辑状态,其中,第一逻辑状态的电平高于第二逻辑状态的电平,该存储单元包括:一静态随机存取存储单元,包括:一第一反相器,包括一第一P型金属氧化物半导体晶体管与一第一N型金属氧化物半导体晶体管,且该第一P型金属氧化物半导体晶体管与该第一N型金属氧化物半导体晶体管的栅极共同连接至一第一输入节点,该第一P型金属氧化物半导体晶体管与该第一N型金属氧化物半导体晶体管的漏极共同连接至一第一输出节点;以及一第二反相器,包括一第二P型金属氧化物半导体晶体管与一第二N型金属氧化物半导体晶体管,且该第二P型金属氧化物半导体晶体管与该第二N型金属氧化物半导体晶体管的栅极共同连接至一第二输入节点,该第二P型金属氧化物半导体晶体管与该第二N型金属氧化物半导体晶体管的漏极共同连接至一第二输出节点;其中,该第一输入节点与该第二输出节点耦接,且该第一输出节点与该第二输入节点耦接;以及一掩膜式只读存储编码器,与该第一与第二P型金属氧化物半导体晶体管的源极耦接或与该第一与第二N型金属氧化物半导体晶体管的源极耦接,并决定该存储单元为该随机存取存储模式或该只读存储模式。
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