[发明专利]一种获得路径损耗误差的方法及装置无效
申请号: | 200610168014.X | 申请日: | 2006-12-15 |
公开(公告)号: | CN1976528A | 公开(公告)日: | 2007-06-06 |
发明(设计)人: | 郭为 | 申请(专利权)人: | 北京中星微电子有限公司 |
主分类号: | H04Q7/34 | 分类号: | H04Q7/34;H04B17/00;H04B7/26 |
代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 | 代理人: | 宋志强;麻海明 |
地址: | 100083北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种获得路径损耗误差的方法,在弱信号条件下,执行以下步骤:用户设备UE根据获得的发射时间提前量TA调整值与路径损耗误差之间的对应关系,获得路径损耗误差。另外,本发明还公开了一种获得路径损耗误差的装置。应用本发明所提供的方法及装置能够获得路径损耗误差,进而根据路径损耗误差调整路径损耗,从而弥补TD-SCDMA在弱信号条件下路径损耗测量的缺陷,保证路径损耗的准确度,减少系统中由于路径损耗不准确而造成的问题,从而提供系统的运行效率,保障系统的正常运行。 | ||
搜索关键词: | 一种 获得 路径 损耗 误差 方法 装置 | ||
【主权项】:
1、一种获得路径损耗误差的方法,其特征在于,在弱信号条件下,执行以下步骤:用户设备UE根据获得的发射时间提前量TA调整值与路径损耗误差之间的对应关系,获得路径损耗误差。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中星微电子有限公司,未经北京中星微电子有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200610168014.X/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于生产复合卷烟滤嘴的装置和方法
- 下一篇:多层光学补偿薄膜