[发明专利]用于同时检测离子材料的大小和浓度的方法和设备无效
| 申请号： | 200610168612.7 | 申请日： | 2006-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN101046462A | 公开（公告）日： | 2007-10-03 |
| 发明（设计）人： | 李圭祥;柳圭泰;沈储暎;郑洹锡;赵莲子 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G01N27/414 | 分类号： | G01N27/414;G06F17/00 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 张波 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 本发明提供同时检测离子材料的大小和浓度的方法和设备。该方法包括：利用用于检测离子材料的具有不同电特性的至少两个基于FET的传感器的每个测量其大小和浓度已知的至少三种离子材料的电压降值；相关于所述至少两个传感器的每个在三维图中确定至少三个点，所述三维图包括来自至少三种离子材料的已知大小、浓度和所述测量的电压降值的大小、浓度和电压降值；相关于所述至少两个传感器的每个将至少所述三个点近似为单个平面；利用所述至少两个传感器测量其大小和浓度未知的离子材料的电压降值；相关于所述至少两个传感器的每个使用未知离子材料的电压降值确定在所述平面上存在的等势线；确定所述各等势线之间的交点。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 同时 检测 离子 材料 大小 浓度 方法 设备 | ||
【主权项】：
1.一种检测离子材料的大小和浓度的方法，该方法包括：利用用于检测离子材料的具有不同电特性的至少两个基于FET的传感器的每个测量其大小和浓度已知的至少三种离子材料的电压降值；相关于用于检测离子材料的具有不同电特性的所述至少两个基于FET的传感器的每个在三维图中确定至少三个点，所述三维图包括来自至少三种离子材料的已知大小、浓度和所述测量的电压降值的大小、浓度和电压降值；相关于用于检测所述离子材料的具有不同电特性的至少两个基于FET的传感器的每个将所确定的点近似为单个平面；利用用于检测所述离子材料的具有不同电特性的至少两个基于FET的传感器的每个测量其大小和浓度未知的离子材料的电压降值；相关于用于检测所述离子材料的具有不同电特性的至少两个基于FET的传感器的每个使用未知离子材料的电压降值确定在所述平面上存在的等势线；确定所确定的等势线之间的至少一个交点。
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