[发明专利]记录和/或再现缺陷列表的方法以及记录和/或再现设备有效
| 申请号： | 200610168716.8 | 申请日： | 2004-04-29 |
| 公开（公告）号： | CN1975909A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 黄盛凞;高祯完 | 申请（专利权）人： | 三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G11B20/10 | 分类号： | G11B20/10;G11B20/18 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 | 代理人： | 郭鸿禧;李友佳 |
| 地址： | 韩国京畿道水*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法，一种再现该临时缺陷列表的方法，一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备，以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括：将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中，并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后，该方法包括：将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中，并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。 | ||
| 搜索关键词： | 记录 再现 缺陷 列表 方法 以及 设备 | ||
【主权项】：
1、一种读取记录在一次写入记录介质上的用于缺陷管理的临时缺陷列表的方法，该方法包括：从一次写入记录介质获得指示记录临时缺陷列表的位置的指针信息；和根据指针信息，访问记录临时缺陷列表的至少一簇并且读取该临时缺陷列表，其中，临时缺陷列表包括缺陷簇的位置信息和用于替换缺陷簇的替换簇的位置信息，其中，指针信息被包括在临时盘定义结构中，其中，临时缺陷列表和临时盘定义结构被记录在设置在一次写入记录介质上的临时盘管理区中。
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