[发明专利]探针的研磨方法和研磨部件有效

专利信息
申请号: 200610168739.9 申请日: 2006-12-19
公开(公告)号: CN1986152A 公开(公告)日: 2007-06-27
发明(设计)人: 小林将人 申请(专利权)人: 东京毅力科创株式会社
主分类号: B24B19/16 分类号: B24B19/16;B24B17/00
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 龙淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种探针的研磨方法和研磨部件,使得即使随着探针板的大型化,探针增加,探针的排列区域超出研磨部件范围,使用该研磨部件,也能确实地研磨探针,并能提高检测的处理能力。本发明的探针的研磨方法,使用研磨片(10)研磨实施晶片电性能检测的排列在探针板(20)上的多枚探针(21),利用载置台(30)使外周缘部具有倾斜面(10A)的研磨片(10)移动,分多次研磨探针区域(21)。
搜索关键词: 探针 研磨 方法 部件
【主权项】:
1.一种探针的研磨方法,使用研磨部件研磨实施被检测体电性能检测的排列在探针板上的多枚探针,其特征在于:使所述研磨部件与所述探针板的位置发生相对变化,分多次对所述多枚探针进行研磨。
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