[发明专利]电源电路的导通故障检测设备有效
| 申请号： | 200610169054.6 | 申请日： | 2006-12-20 |
| 公开（公告）号： | CN1988385A | 公开（公告）日： | 2007-06-27 |
| 发明（设计）人： | 大岛俊藏 | 申请（专利权）人： | 矢崎总业株式会社 |
| 主分类号： | H03K17/08 | 分类号： | H03K17/08;H02H7/20 |
| 代理公司： | 中原信达知识产权代理有限责任公司 | 代理人： | 夏凯;钟强 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种导通故障检测设备，其检测电源电路的FET T1的导通故障，该电源电路包括设置在电池E与负载RL之间、并且对该负载RL进行驱动和停止控制的FET T1。该导通故障检测设备包括：驱动电路1，其将用于切换半导体元件的导通和截止的驱动信号提供到FET T1的栅极；栅极电阻器Rg，其设置在驱动电路1与FET T1的栅极之间；以及导通故障检测电路11，其用于检测栅极电阻器Rg的压降是否超过预定值，并且在栅极电阻器Rg的压降超过预定值时，确定在FET T1上发生导通故障。 | ||
| 搜索关键词： | 电源 电路 故障 检测 设备 | ||
【主权项】：
1.一种电源电路的导通故障检测设备，其用于检测电源电路的半导体元件的导通故障，该电源电路包括设置在电源与负载之间的半导体元件，并且通过切换该半导体元件的导通和截止，对该负载的驱动和停止进行控制，其包括：驱动电路，将用于切换半导体元件的导通和截止的驱动信号提供到半导体元件的驱动端；第一电阻器，设置在驱动电路与该驱动端之间；以及导通故障检测单元，用于检测在第一电阻器产生的电压是否超过预定值，而且在该电压超过预定值时，确定该半导体元件发生导通故障。
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