[发明专利]扫描电镜中纳米线原位拉伸装置及方法

摘要

一种扫描电镜中纳米线原位拉伸装置及方法，属于纳米材料力学性能原位测量领域。该发明通过控制加热器使双金属片发生弯曲变形，双金属片驱动滑块沿导轨向两侧直线运动，拉伸变形固定在样品台上面的纳米线，利用扫描电子显微镜原位实时记录纳米线在拉伸作用下弹塑性变形过程及断裂失效的方式，最大断裂应变量，将纳米线的力学性能与微观结构变化直接对应起来，从纳米尺度上揭示的纳米线的弹塑性变形机制、断裂失效的形式，脆韧转变机制等一维纳米线的力学性能。与现有技术相比，本发明具有结构简单，控制方便，应变速率可控等优点，可以方便地在扫描电子显微镜中工作，实现了纳米线力学性能的原位在线测量。

主权项

1、一种扫描电镜中纳米线原位拉伸装置，其特征在于：包括底座(1)和固定在底座上的加热器(2)，加热器(2)上面固定带有凹槽的支架(3)，支架上的两个凹槽里面用紧固螺钉(9)分别固定两个双金属片(7)的一端，两双金属片(7)的另一端分别与一对滑块(5)连接；导轨(4)固定在底座(1)上面，导轨(4)与支架(3)平行，与双金属片(7)垂直；一对滑块(5)设置在导轨(4)上面，两滑块(5)上面分别设置一对水平位置可调节的样品台(6)。