[发明专利]PCB测试中实现四八密度共用的连线方法有效
| 申请号： | 200610170591.2 | 申请日： | 2006-12-26 |
| 公开（公告）号： | CN101210938A | 公开（公告）日： | 2008-07-02 |
| 发明（设计）人： | 张亚民 | 申请（专利权）人： | 张亚民 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 | 代理人： | 周建秋 |
| 地址： | 518000广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，将八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。本发明用于连接八密度设置的网格与四密度设置的测试通道组，而实现测试通道组以四密度设置的测试机可以进行四密度测试和八密度测试两种测试，从而降低PCB测试的成本。 | ||
| 搜索关键词： | pcb 测试 实现 密度 共用 连线 方法 | ||
【主权项】：
1.一种PCB测试中实现四八密度共用的连线方法，用于连接八密度网格和四密度测试通道组，其特征在于：将所述八密度网格均分为第一区域、第二区域、第三区域及第四区域，所述第一区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第二区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，所述第三区域上的奇数测试点列、偶数测试点列分别与所述第四区域上的偶数测试点列、奇数测试点列顺次对应，相对应的两列上的测试点一一对应连接，相连接的两个测试点连接于所述四密度测试通道组中的一个测试通道。
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