[发明专利]一种对单一颗粒物进行多功能检测的微流控芯片装置无效
申请号: | 200610171512.X | 申请日: | 2006-12-30 |
公开(公告)号: | CN1987420A | 公开(公告)日: | 2007-06-27 |
发明(设计)人: | 林金明;刘江疆 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G01N15/10 | 分类号: | G01N15/10;G01N21/00 |
代理公司: | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王凤华 |
地址: | 100084*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种对单一颗粒物进行多功能检测的微流控芯片装置,包括:其上设有由连通的第一、第二部分水平凹槽组成的水平凹槽的基片;水平凹槽一侧设内装光纤的第一垂向凹槽,另一侧设第二垂向凹槽;第一、第二部分水平凹槽和第二垂向凹槽外端处分别设进液池、出液池和发光试剂进样池;一紧密贴于基片上的盖板;与第一垂向凹槽共轴的激光器,光纤将激光器输出的激光引入到微流控芯片装置中;一位于基片下方的配有滤光片的光电倍增管,其安放方向和光纤引入方向正交;位于第一部分水平凹槽1与第二部分水平凹槽连接处正上方荧光显微镜。使用时待测颗粒物被引入通道并定位在粗细通道交界处,便可对该待测颗粒物进行多功能检测。结构简单,使用和制作方便。 | ||
搜索关键词: | 一种 单一 颗粒 进行 多功能 检测 微流控 芯片 装置 | ||
【主权项】:
1、一种对单一颗粒物进行多功能检测的微流控芯片装置,包括:一基片(1);所述基片(1)的上表面上设置一水平凹槽,该水平凹槽由相互连通的第一部分水平凹槽(11)和第二部分水平凹槽(12)组成,所述第一部分水平凹槽(11)的截面面积为0.03-0.08mm2,所述第二部分水平凹槽(12)的截面面积为0.002-0.004mm2;设置在所述基片(1)上表面上的所述水平凹槽一侧且与所述水平凹槽垂直的内装光纤的第一垂向凹槽(13),所述第三垂向凹槽(13)的内端距所述第二水平凹槽(12)的槽边0.15-0.2mm;设置在所述基片(1)上表面上的所述水平凹槽另一侧且与所述水平凹槽垂直相通的第二垂向凹槽(14);所述第二垂向凹槽(14)的截面面积为0.08-0.1mm2;设置在所述第一部分水平凹槽(11)外端处的与所述第一部分水平凹槽(11)相通的圆筒型进液池(112);设置在所述第二部分水平凹槽(12)外端处且与第二部分水平凹槽(12)相通的圆筒型出液池(122);设置在所述第二垂向凹槽(14)外端部处且与所述第二垂向凹槽(14)相通的圆筒型发光试剂进样池(142);-紧密贴合于所述基片(1)上表面上且与所述基片(1)尺寸相同的盖板;在所述盖板上与所述圆筒型进液池(112)和圆筒型出液池(122)以及圆筒型发光试剂池(142)的相对应处分别设有通孔,所述通孔上分别连接进液管(111)、出液管(121)以及发光试剂进样管(141);一激光器(3)及一光电倍增管(4);所述激光器(3)与所述第一垂向凹槽(13)共轴,所述装在所述第一垂向凹槽(13)的光纤将激光器(3)输出的激光引入到微流控芯片装置中;所述光电倍增管(4)配置有滤光片并位于所述基片(1)的下方,其安放方向和光纤的引入方向正交;一带有CCD的荧光显微镜(2);所述带有CCD的荧光显微镜(2)位于所述第一部分水平凹槽(11)与所述第二部分水平凹槽12连接处正上方。
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