[发明专利]产生长度偏差统计的方法与系统及应用其的方法与系统有效
| 申请号： | 200610172290.3 | 申请日： | 2006-12-30 |
| 公开（公告）号： | CN1996468A | 公开（公告）日： | 2007-07-11 |
| 发明（设计）人： | 游志青 | 申请（专利权）人： | 联发科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11B7/00 | 分类号： | G11B7/00;G11B7/0045;G11B20/00 |
| 代理公司： | 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人： | 陶海萍 |
| 地址： | 中国台湾新竹*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供一种产生长度偏差统计的方法与系统及应用其的方法与系统，该长度偏差统计用来控制一光学储存装置的运作。该调整控制参数的方法具有如下步骤：检测复数个型样长度，每一型样长度对应于该光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；以及依据所述型样长度进行计算，以产生与所述型样长度关联的长度偏差统计；以及利用该长度偏差统计以调整该控制参数。通过本发明，该调整光学储存装置的控制参数的方法与系统可以得到更好的品质参数，来实现更佳的数据写入的品质。 | ||
| 搜索关键词： | 产生 长度 偏差 统计 方法 系统 应用 | ||
【主权项】：
1.一种用来调整控制参数的方法，所述控制参数用来控制一光学储存装置的运作，其特征在于，所述方法包含有如下步骤：检测复数个型样长度，每一型样长度对应于所述光学储存装置所存取的光学储存媒体上的数据；依据所述这些型样长度进行计算，以产生与所述这些型样长度关联的长度偏差统计；以及利用所述长度偏差统计以调整所述控制参数。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于联发科技股份有限公司，未经联发科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200610172290.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
