[发明专利]多芯片封装体无效
申请号: | 200610172746.6 | 申请日: | 2006-12-30 |
公开(公告)号: | CN101034699A | 公开(公告)日: | 2007-09-12 |
发明(设计)人: | 竹泽良典;长谷川和弘;浅野隆浩;中田崇司 | 申请(专利权)人: | 三洋电机株式会社 |
主分类号: | H01L25/00 | 分类号: | H01L25/00;H01L25/065 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人: | 李香兰 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 在半导体芯片(1)上,形成数字电路(2)以及模拟电路(3)。并且,在半导体芯片(1)上,还形成非易失性寄存器(4)以保存用于调整模拟电路(3)的电路特性的信息。根据保存在该非易失性寄存器(4)中的信息,调整模拟电路(3)的电路特性。于是,经由粘合剂(12)按照与模拟电路(3)的电路区域重叠的方式安装其它半导体假芯片(11),从而形成多芯片封装体。 | ||
搜索关键词: | 芯片 封装 | ||
【主权项】:
1、一种多芯片封装体,具有:第一半导体芯片,其中形成非易失性寄存器和通过上述非易失性寄存器调整特性的模拟电路区域;和第二半导体芯片,经由粘合剂按照与上述模拟电路区域重叠的方式安装。
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