[发明专利]用于半导体晶片测试的被测装置阵列的布局无效
| 申请号： | 200610172887.8 | 申请日： | 2006-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN1976022A | 公开（公告）日： | 2007-06-06 |
| 发明（设计）人： | 克里斯托弗·赫斯;安杰洛·罗索尼;斯特凡诺·托奈罗;米切尔·斯奎恰里尼;米切尔·夸兰泰利 | 申请（专利权）人： | PDF全解公司 |
| 主分类号： | H01L23/544 | 分类号： | H01L23/544;H01L21/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 美国加*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 用于晶片测试的形成在半导体晶片上的被测装置的布局包括被测装置的第一阵列和形成在第一阵列附近的第一焊盘装置。第一焊盘装置包括栅极驱动焊盘、源极焊盘和漏极焊盘。第一阵列中的每个被测装置连接到第一焊盘装置中的栅极焊盘。第一阵列中的每个被测装置连接到第一焊盘装置中的源极焊盘。第一阵列中的每个被测装置连接到第一焊盘装置中的漏极焊盘。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 半导体 晶片 测试 装置 阵列 布局 | ||
【主权项】：
1.用于晶片测试的形成在半导体晶片上的被测装置的布局，布局包括：被测装置的第一阵列；以及邻近第一阵列形成的第一焊盘装置，第一焊盘装置包括栅极驱动焊盘、源极焊盘和漏极焊盘，其中第一阵列的每一个被测装置并联连接到第一焊盘装置的源极焊盘，其中第一阵列的每一个被测装置并联连接到第一焊盘装置的漏极焊盘，连接到第一阵列的每一个被测装置和栅极驱动焊盘的选择电路，其中选择电路被配置为选择地将第一阵列的每一个被测装置连接到栅极驱动焊盘。
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