[发明专利]白光干涉系统用于分光光度计中可变吸光长度测量的方法无效
申请号: | 200610200310.3 | 申请日: | 2006-04-04 |
公开(公告)号: | CN101046444A | 公开(公告)日: | 2007-10-03 |
发明(设计)人: | 孙长森;孙昱星;丁建华 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | G01N21/31 | 分类号: | G01N21/31;G01B11/02 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 | 代理人: | 侯明远 |
地址: | 116024*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明属于化学分析仪器技术领域,涉及一种白光干涉系统用于分光光度计中可变吸光长度测量的方法。其特征是分光光度计测量待测液体时,为获取最优吸光度值,普遍采用固定吸光长度、稀释待测液体浓度的方法中存在的问题。将迈克尔逊白光干涉系统用于分光光度计中,通过预先设定最佳吸光度值,控制样品的量来改变待测液体的吸光长度,再由测量到的待测液体上表面位置的变化量来计算吸光长度,完成对被测液体的定量分析的要求。本发明的效果和益处是将白光干涉系统用于分光光度计中可变吸光长度的测量,其测量范围大、精度高,可以实现对液体吸光系数、或浓度的直接测量。 | ||
搜索关键词: | 白光 干涉 系统 用于 分光 光度计 可变 长度 测量 方法 | ||
【主权项】:
1.一种白光干涉系统用于分光光度计中可变吸光长度测量的方法,其特征是将垂直入射到液体表面反射回来的光束作为迈克尔逊白光干涉系统的测量臂,将固定在步进电机上的全反射平面镜作为迈克尔逊白光干涉系统的参考臂;以一个低相干宽谱光源作为工作光源,用待测液体上表面位置的变化量来计算吸光长度。
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