[实用新型]测试装置无效

专利信息
申请号: 200620000322.7 申请日: 2006-01-10
公开(公告)号: CN2879195Y 公开(公告)日: 2007-03-14
发明(设计)人: 侯雪莲;黄官宇 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G01R1/02 分类号: G01R1/02;G01R31/28;G01R31/317
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开一种测试装置,用以电性测试电路板,该电路板上设有至少一位于表面且供该测试装置电性连接的连接部,该测试装置包括用以承载该电路板的基座以及一设在该基座上的控制组件,该控制组具有布设在该基座上的滑移组件、设在该滑移组件上的支撑件、设置在该支撑件上的垂直移动控制件以及一与该垂直移动控制件连接的电性转接部。与现有技术相比,本实用新型的测试装置通过滑移组件使控制组件可相对于基座水平滑移,使用者可方便地对电路板进行测试,并避免现有技术中易损伤待测试功能单元及电路板的缺失,本实用新型具有结构简单及操作方便的优点。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
1.一种测试装置,用以电性测试电路板,该电路板上设有至少一位于表面且与该测试装置电性连接的连接部,其特征在于,该测试装置包括:基座,承载该电路板;以及设在该基座上的控制组件,该控制组件具有一布设在该基座上的滑移组件、一接置在该滑移组件上的支撑件、一设置在该支撑件上的垂直移动控制件以及一与该垂直移动控制件连接的电性转接部,其中,该滑移组件是供该支撑件相对于该基座平行移动,该垂直移动控制件是供该电性转接部相对该基座进行垂直移动,使该电性转接部借由该滑移组件在该基座上平行移动到与该电路板连接部相对应时,通过该垂直移动控制件作动与该电路板连接部相互电性连接,进行测试程序。
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