[实用新型]测试装置无效

专利信息
申请号: 200620000420.0 申请日: 2006-01-05
公开(公告)号: CN2890925Y 公开(公告)日: 2007-04-18
发明(设计)人: 张锦;黄官宇 申请(专利权)人: 英业达股份有限公司
主分类号: G01R1/06 分类号: G01R1/06;G01R1/20;G01R31/00;G01R31/28
代理公司: 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 程伟
地址: 台湾省*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 实用新型公开一种测试装置,该测试装置包括:一基座,置放一待测电路板,该待测电路板具有一连接器,且该连接器具有多个针脚;一转接件,具有一连接件及探针,该连接件与一测试用电路板的连接器电性连接,且该连接件与该探针借由一转接线电性连接,该探针用以连接该待测电路板连接器的针脚以及一承载座,置于该基座上,且对应置于该基座的待测电路板的适当位置处,承载该转接件的探针。本实用新型测试装置的探针对应插接在连接器的针脚上即可进行测试作业,其结构简单且易于实施,提高了连接器插拔作业的便利性和效率,本实用新型的探针只与该待测电路板连接器的针脚接触,并非与连接器接触,因此避免连接器间的插拔,提高了连接器的使用寿命。
搜索关键词: 测试 装置
【主权项】:
1.一种测试装置,其特征在于,该测试装置包括:一基座,置放一待测电路板,该待测电路板具有一连接器,且该连接器具有多个针脚;一转接件,具有一连接件及探针,该连接件与一测试用电路板的连接器电性连接,且该连接件与该探针借由一转接线电性连接,该探针用以连接该待测电路板连接器的针脚;以及一承载座,置于该基座上,且对应置于该基座的待测电路板的适当位置处,用以承载该转接件的探针,并在该承载座上垂直设置一操作件,在该测试用电路板对该待测电路板进行测试时,操作该操作件,使该转接件的探针与该待测电路板的连接器电性连接,对该待测电路板进行测试。
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