[实用新型]具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置无效
| 申请号： | 200620002424.2 | 申请日： | 2006-01-16 |
| 公开（公告）号： | CN2938125Y | 公开（公告）日： | 2007-08-22 |
| 发明（设计）人： | 赵茂雄 | 申请（专利权）人： | 宏连国际科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 | 代理人： | 夏晏平 |
| 地址： | 台湾台北瑞*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置，设置有功能与体质测试平台，该功能测试平台设置有可收容芯片模块的复数插槽，并设有测试程序以对芯片模块进行功能测试；而体质测试平台透过复数测试点与功能测试平台的芯片模块呈电性连接，且体质测试平台设有变压装置与电流量测装置，使用时，先利用变压装置接收外部电源并转换为工作电压，再透过电流量测装置对芯片模块或芯片进行电流量测，使用者透过显示装置观察量测装置的电流变化，以判断芯片或芯片模块是否为良品，待判断为良品后可执行功能测试平台的测试程序，以判断待测物的功能正常与否，可让操作过程达到更为方便、快速的目的，并可有效降低测试器具的成本。 | ||
| 搜索关键词： | 整合 体质 测试 功能 芯片 装置 | ||
【主权项】：
1.一种具整合体质测试与功能测试的芯片测试装置，设置有功能测试平台与体质测试平台；其特征是，该功能测试平台设置有可收容芯片模块的复数插槽，且芯片模块设置有复数测试点，并设有可收容预设芯片的复数容置座体，而功能测试平台具有可对芯片模块进行功能测试的测试程序；该体质测试平台设置有可与芯片模块的复数测试点呈电性连接的复数测试点，且体质测试平台设置有可接收预设的外部电源的变压装置，并设有可对芯片模块的电流进行测量的电流量测装置。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于宏连国际科技股份有限公司，未经宏连国际科技股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200620002424.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
