[实用新型]比容测试辅助装置无效
| 申请号： | 200620017301.6 | 申请日： | 2006-07-28 |
| 公开（公告）号： | CN2927047Y | 公开（公告）日： | 2007-07-25 |
| 发明（设计）人： | 宋荣 | 申请（专利权）人： | 深圳职业技术学院 |
| 主分类号： | G01N27/22 | 分类号： | G01N27/22;G01N27/60 |
| 代理公司： | 深圳市科吉华烽知识产权事务所 | 代理人： | 胡吉科 |
| 地址： | 518055*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本实用新型提供一种比容测试辅助装置，其包括探针和具有定位器的夹具，该探针与一个控制器连接，用于探测比容测试液的液面位置，该夹具用于夹紧待测样片，通过该定位器将待测样片准确定位，当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时，该待测样片刚好垂直浸入该比容测试液。本实用新型操作简单、方便、对待测样片的定位准确且具有较高的比容测试精度，可消除人为因素对比容测试过程的影响，从而降低产品的生产成本。 | ||
| 搜索关键词： | 比容 测试 辅助 装置 | ||
【主权项】：
1.一种比容测试辅助装置，其特征在于：包括探针和具有定位器的夹具，该探针与一个控制器连接，用于探测比容测试液的液面位置，该夹具用于夹紧待测样片，通过该定位器将待测样片准确定位，当探针的底部尖端接触比容测试液的表面时，该待测样片刚好垂直浸入该比容测试液。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳职业技术学院，未经深圳职业技术学院许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200620017301.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：偏振板及显示装置
- 下一篇：偏光片及包含所述偏光片的偏光板
