[实用新型]镀层厚度测量仪标定装置无效

专利信息
申请号: 200620039423.5 申请日: 2006-02-10
公开(公告)号: CN2869766Y 公开(公告)日: 2007-02-14
发明(设计)人: 庄琴芳 申请(专利权)人: 上海华阳检测仪器有限公司
主分类号: G01B5/06 分类号: G01B5/06
代理公司: 上海世贸专利代理有限责任公司 代理人: 严新德
地址: 200050*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种镀层厚度测量仪标定装置,由底座、传感器、基块和数显千分表构成,数显千分表和传感器分别设置在所述的底座的上部的两端,传感器的前端设置有螺杆,螺杆上设置有细牙螺纹,基块一端与传感器接触设置,基块的另一端与数显千分表接触设置,基块的内侧设置有压簧。本实用新型以空气为介质,通过变更传感器与基块的距离来标定产品的刻度值,从根本上改变了用试片标定仪器的方法。
搜索关键词: 镀层 厚度 测量仪 标定 装置
【主权项】:
1.一种镀层厚度测量仪标定装置,由底座、传感器、基块和数显千分表构成,其特征在于:所述的数显千分表和所述的传感器分别设置在所述的底座的上部的两端,所述的传感器的前端设置有螺杆,所述的螺杆上设置有细牙螺纹,所述的基块一端与所述的传感器接触设置,所述的基块的另一端与所述的数显千分表接触设置,所述的基块的内侧设置有压簧。
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