[实用新型]一种微型全分析系统用芯片结构无效

专利信息
申请号: 200620041060.9 申请日: 2006-04-14
公开(公告)号: CN2935159Y 公开(公告)日: 2007-08-15
发明(设计)人: 王鹗;陈建钢;方群;刘志高;王伟;张涛;富景林;张大伟 申请(专利权)人: 上海光谱仪器有限公司
主分类号: G01N35/00 分类号: G01N35/00;G01N33/48
代理公司: 上海申汇专利代理有限公司 代理人: 俞宗耀
地址: 200233上海市漕河泾高新*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种微型全分析系统用芯片结构,包括盖片和基片,基片的上表面与盖片下表面紧密贴合,其特征在于:盖片上刻有小孔,基片的上表面刻有微通道,所述小孔分别与相应的所述微通道相通,盖片的面积大于基片的面积,形成安装在芯片工作台上时的支撑定位面。所述盖片和所述基片的材料是玻璃、石英、高分子聚合物或者硅中的一种,形状可以是矩形、圆形或其他形状。本实用新型的有益效果是:芯片相对于光源高度的正确定位不受芯片厚度的影响,芯片工作台高度固定后,芯片的微通道所在高度也即相应固定。更换不同芯片或移动芯片后,只要将芯片放在相应工作台上,即可轻松完成定位。
搜索关键词: 一种 微型 分析 系统 芯片 结构
【主权项】:
1.一种微型全分析系统用芯片结构,包括盖片(1)和基片(2),其特征在于:所述基片(2)的上表面与所述盖片(1)的下表面紧密贴合,盖片(1)上刻有小孔(3),基片(2)的上表面刻有微通道(4),所述小孔(3)分别与相应的所述微通道(4)相通,所述盖片(1)的面积大于所述基片(2)的面积,形成支撑定位面(5)。
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