[实用新型]超短脉冲频率分辨光学开关法测量装置无效

专利信息
申请号: 200620043461.8 申请日: 2006-06-30
公开(公告)号: CN201043917Y 公开(公告)日: 2008-04-02
发明(设计)人: 戴恩文;周常河 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 代理人: 张泽纯
地址: 201800上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种超短脉冲频率分辨光学开关法测量装置,该装置仅利用一块1×2反射式达曼光栅,还包括第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、计算机控制的微动台、透镜、非线性晶体和光谱仪,本实用新型仅用一块反射达曼光栅和三块反射镜实现了超短脉冲光测量,从而消除了传统的透/反射式光分束器对脉冲光的影响,同时达曼光栅的制造技术与微电子加工技术相兼容,因此具有易加工、成本低的优点。
搜索关键词: 超短 脉冲 频率 分辨 光学 开关 测量 装置
【主权项】:
1.一种超短脉冲频率分辨光学开关法测量装置,其特征在于该装置仅利用一块1×2反射式达曼光栅(12),还包括第一反射镜(13)、第二反射镜(14-1)、第三反射镜(14-2)、计算机控制的微动台(15)、透镜(16)、非线性晶体(17)和光谱仪(18),所述的反射式1×2达曼光栅(12)的周期为d,深度为λc/4,光栅刻槽水平放置,λc为中心波长,第一反射镜(13)和所述的反射式1×2达曼光栅(12)相对放置,第二反射镜(14-1)和第三反射镜(14-2)位于同一平面并处于第一反射镜(13)和反射式1×2达曼光栅(12)之间。
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