[实用新型]全深度探测的频域光学相干层析成像装置无效
申请号: | 200620043657.7 | 申请日: | 2006-07-05 |
公开(公告)号: | CN2916623Y | 公开(公告)日: | 2007-06-27 |
发明(设计)人: | 步鹏;王向朝 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01N21/45 | 分类号: | G01N21/45;A61B5/00 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人: | 张泽纯 |
地址: | 201800上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种全深度探测的频域光学相干层析成像装置,包括低相干光源,在该低相干光源的照明方向上顺次放置准直扩束器、迈克尔逊干涉仪,该迈克尔逊干涉仪的分光器将入射光分为探测臂光路和参考臂光路,参考臂光路的末端为参考反射镜,探测臂光路的末端为被测样品,被测样品放置在一个三维精密平移台上,迈克尔逊干涉仪输出端连接一光谱仪,该光谱仪通过图像采集卡和计算机连接,该装置的特点是所述的参考反射镜连接一正弦相位调制装置。本实用新型与现有技术相比具有抗环境干扰能力强,对光源波长无关和系统结构简单的优点。 | ||
搜索关键词: | 深度 探测 光学 相干 层析 成像 装置 | ||
【主权项】:
1、一种全深度探测的频域光学相干层析成像装置,包括低相干光源(1),在该低相干光源(1)的照明方向上顺次放置准直扩束器(2)、迈克尔逊干涉仪(3),该迈克尔逊干涉仪(3)的分光器(31)将入射光分为探测光路(34)和参考光路(32),参考光路的末端为参考反射镜(33),探测光路的末端为被测样品(35),被测样品(35)放置在一个三维精密平移台上;迈克尔逊干涉仪(3)输出端连接一光谱仪(5),该光谱仪(5)通过图像采集卡(6)和计算机(7)连接,其特征在于所述的参考反射镜(33)连接一正弦相位调制装置(4),该正弦相位调制装置(4)驱动所述的参考反射镜(33)作正弦振动。
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