[实用新型]测试球栅阵列形集成电路的测试座无效
申请号: | 200620054523.5 | 申请日: | 2006-01-27 |
公开(公告)号: | CN2884204Y | 公开(公告)日: | 2007-03-28 |
发明(设计)人: | 冯有才 | 申请(专利权)人: | 冯有才 |
主分类号: | G01R1/02 | 分类号: | G01R1/02;G01R31/28 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 | 代理人: | 蒋海燕 |
地址: | 523013广东省深圳*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种测试球栅阵列形集成电路的测试座,包括压座、针盘、转接针盘,所述压座、针盘、转接针盘通过定位销和连接销连接为一体。具有结构简单、体积小、测试精度高、且使用方便的优点。 | ||
搜索关键词: | 测试 阵列 集成电路 | ||
【主权项】:
1、一种测试球栅阵列形集成电路的测试座,其特征在于,包括压座(A)、针盘(B)、转接针盘(C),所述压座(A)、针盘(B)、转接针盘(C)通过定位销(a)和连接销(b)连接为一体。
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