[实用新型]X射线回摆曲线测定系统无效
| 申请号： | 200620091761.3 | 申请日： | 2006-06-27 |
| 公开（公告）号： | CN200979535Y | 公开（公告）日： | 2007-11-21 |
| 发明（设计）人： | 关守平;赵久 | 申请（专利权）人： | 关守平;赵久 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20 |
| 代理公司： | 沈阳利泰专利代理有限公司 | 代理人： | 李枢 |
| 地址： | 110004辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | X射线回摆曲线测定系统，包括X射线发生器、衍射线控测器、晶片样品旋转台及计算机控制系统；所述的X射线发生装置中设置有X射线管和单色器，X射线管的出口射线以布拉格θ角照射在直立的单色器上，去掉Kβ及连续谱线，剩下的较单色化的Kα射线照射在晶片样品旋转台上的被测晶片上，并在被测晶片中心交于一点，产生晶片衍射光线，晶片衍射光线被X射线探测器接收；所述的计算机系统，包括数据采集器、工业用PC机、打印机及应用软件；所述控测器的输出信号经数据采集器后进入工业用PC机，由应用软件进行去掉Kα2谱线处理后得到样品晶片的回摆曲线。本实用新型具有不破坏样品、无污染、快捷、测量精度高等优点。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 曲线 测定 系统 | ||
【主权项】：
1、X射线回摆曲线测定系统，包括X射线发生器、衍射线探测器、晶片样品旋转台及计算机控制系统；其特征在于所述的X射线发生装置中设置有X射线管和单色器，X射线管的出口射线以布拉格θ角照射在直立的单色器上；所述的计算机系统，包括数据采集器、工业用PC机、打印机及应用软件；所述衍射线探测器的输出信号经数据采集器后进入工业用PC机，由应用软件进行去掉Kα2谱线处理后得到样品晶片的回摆曲线。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于关守平;赵久，未经关守平;赵久许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200620091761.3/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：气动单头钉扣机
- 下一篇：具有改进的抗积垢形成性的树脂组合物及方法
