[实用新型]一种在位式光电分析系统无效
申请号: | 200620105102.0 | 申请日: | 2006-06-25 |
公开(公告)号: | CN2929707Y | 公开(公告)日: | 2007-08-01 |
发明(设计)人: | 熊志才;钟安平;王健 | 申请(专利权)人: | 王健 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/01 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310052浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种在位式光电分析系统,包括测量探头、第一和第二配接体,所述的第一和第二配接体安装在被测气体管道的两侧;所述分析系统还包括安装在被测气体管道内的连接体,所述连接体的两端与第一和第二配接体相连接,使第一和第二配接体保持同轴。通过使用用于保证配接体之间同轴的连接体,节省掉了诸多法兰盘,系统简单,从而降低了成本。另外,由于连接体与配接体是一体的,保证了光路的准直性,从而光路调节容易,进而方便了工程安装和维护。 | ||
搜索关键词: | 一种 在位 光电 分析 系统 | ||
【主权项】:
1、一种在位式光电分析系统,包括测量探头、第一和第二配接体,所述的第一和第二配接体安装在过程气流管道的两侧;其特征在于:所述分析系统还包括安装在过程气流管道内的连接体,所述连接体的两端与第一和第二配接体相连接,使第一和第二配接体保持同轴。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于王健,未经王健许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200620105102.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。