[实用新型]一种在位式光电分析系统无效

专利信息
申请号: 200620105102.0 申请日: 2006-06-25
公开(公告)号: CN2929707Y 公开(公告)日: 2007-08-01
发明(设计)人: 熊志才;钟安平;王健 申请(专利权)人: 王健
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25;G01N21/01
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310052浙江省杭州*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种在位式光电分析系统,包括测量探头、第一和第二配接体,所述的第一和第二配接体安装在被测气体管道的两侧;所述分析系统还包括安装在被测气体管道内的连接体,所述连接体的两端与第一和第二配接体相连接,使第一和第二配接体保持同轴。通过使用用于保证配接体之间同轴的连接体,节省掉了诸多法兰盘,系统简单,从而降低了成本。另外,由于连接体与配接体是一体的,保证了光路的准直性,从而光路调节容易,进而方便了工程安装和维护。
搜索关键词: 一种 在位 光电 分析 系统
【主权项】:
1、一种在位式光电分析系统,包括测量探头、第一和第二配接体,所述的第一和第二配接体安装在过程气流管道的两侧;其特征在于:所述分析系统还包括安装在过程气流管道内的连接体,所述连接体的两端与第一和第二配接体相连接,使第一和第二配接体保持同轴。
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