[实用新型]光学低通滤波器性能测试装置无效

专利信息
申请号: 200620140300.0 申请日: 2006-11-24
公开(公告)号: CN200986650Y 公开(公告)日: 2007-12-05
发明(设计)人: 戚巽骏;林斌 申请(专利权)人: 浙江大学;星星集团浙江水晶光电科技有限公司
主分类号: G03B43/00 分类号: G03B43/00;G01R31/00
代理公司: 杭州中成专利事务所有限公司 代理人: 唐银益
地址: 310007浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 实用新型公开了一种测试装置,旨在提供一种光学低通滤波器性能测试的装置。该装置包括光源,在光源的光路上,依次设置带小孔的挡板、光学成像系统A、转像系统、光学成像系统B和图像传感器,一个计算机系统连接于图像传感器,用于将图像传感器传送的电信号处理成图像数据结果;被测光学低通滤波器摆放位置设于转像系统与光学成像系统B之间的光路上;所述转像系统是一直角棱镜;所述光学成像系统A和光学成像系统B各包括至少一个显微物镜。本实用新型提供的检测光学低通滤波器性能的装置相对于现有技术更加快速、批量、精确。
搜索关键词: 光学 滤波器 性能 测试 装置
【主权项】:
1、一种光学低通滤波器性能测试装置,包括光源,其特征在于,在光源的光路上,依次设置带小孔的挡板、光学成像系统A、转像系统、光学成像系统B和图像传感器,一个计算机系统连接于图像传感器,用于将图像传感器传送的电信号处理成图像数据结果;被测光学低通滤波器摆放位置设于转像系统与光学成像系统B之间的光路上;所述转像系统是一直角棱镜;所述光学成像系统A和光学成像系统B各包括至少一个显微物镜。
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