[实用新型]一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置无效

专利信息
申请号: 200620149569.5 申请日: 2006-12-18
公开(公告)号: CN201078747Y 公开(公告)日: 2008-06-25
发明(设计)人: 巩岩 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00;G01M11/02
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 代理人: 南小平
地址: 130031吉*** 国省代码: 吉林;22
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 实用新型属于短波段成像光学领域,具体的说是一种极紫外成像光学仪器成像质量测试装置。在本实用新型中设计了如图所表示的检测装置,整个光学系统均处于真空条件下,极紫外光源发出极紫外光束经过精密刻画的金属栅网后,打到反射镜和,最后经过待测极紫外成像光学系统在极紫外相机上成像,金属栅网的网格尺度与所成的像进行比较,经过计算即可得到待测光学系统的分辨率数据。本实用新型的有益效果为:提供了一种结构简单、性能可靠能够对极紫外成像光学仪器成像质量进行测试的装置。
搜索关键词: 一种 紫外 成像 光学仪器 质量 测试 装置
【主权项】:
1.一种用于6nm-100nm波段的极紫外成像光学仪器成像质量测试装置,光源(1)产生的平行光通过鉴别率板(2)后经反射镜(3)和(4),最后经过待检成像系统(5)在探测器(6)上成像,其特征是:所述鉴别率板(2)是精密刻画的金属栅网(7)。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200620149569.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top