[实用新型]偏振式半导体光二极管自相关测量装置无效

专利信息
申请号: 200620158664.1 申请日: 2006-12-01
公开(公告)号: CN200993600Y 公开(公告)日: 2007-12-19
发明(设计)人: 李港;陈檬;朱琳;常亮;林陶君;张丙元 申请(专利权)人: 北京工业大学
主分类号: G01J11/00 分类号: G01J11/00
代理公司: 北京思海天达知识产权代理有限公司 代理人: 沈波
地址: 100022*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型是一种偏振式半导体光二极管自相关测量装置,用于测量超短脉冲激光的脉冲宽度。待测光依次经过准直透镜(1)、1/2波片(2)到达一偏振棱镜(3),经偏振棱镜(3)分成强度相同但偏振态不同且相互垂直的两束光,其中一束光经过第一1/4波片(4)后垂直入射到第一全反镜(6)上,经第一全反镜(6)反射后沿原路返回到偏振棱镜(3),另一束光经过第二1/4波片(7)后垂直入射到第二全反镜(8)上,经第二全反镜(8)反射后沿原路返回到偏振棱镜(3),两束光经过偏振棱镜(3)后经一凹面镜(9)聚焦后会聚到半导体光二极管(10)上。采用偏振式结构,损耗小,能够在较低平均功率下进行测量,测量精度高。
搜索关键词: 偏振 半导体 二极 管自 相关 测量 装置
【主权项】:
1、偏振式半导体光二极管自相关测量装置,主要包括有凹面镜(9)、半导体光二极管(10)、示波器(11),其特征在于:还包括有准直透镜(1)、偏振棱镜(3)、1/2波片(2)、第一1/4波片(4)、第二1/4波片(7),其中,待测光依次经过准直透镜(1)、1/2波片(2)到达一偏振棱镜(3),经偏振棱镜(3)分成强度相同但偏振态不同且相互垂直的两束光,其中一束光经过第一1/4波片(4)后垂直入射到由步进电机(5)驱动的第一全反镜(6)上,经第一全反镜(6)反射后沿原路经第一1/4波片(4)返回到偏振棱镜(3),另一束光经过第二1/4波片(7)后垂直入射到第二全反镜(8)上,经第二全反镜(8)反射后沿原路经第二1/4波片(7)后返回到偏振棱镜(3),两束光经过偏振棱镜(3)后经一凹面镜(9)聚焦后会聚到半导体光二极管(10)上,经过示波器(11),在示波器(11)上显示出自相关曲线。
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