[发明专利]光纤的双折射测定方法及测定装置、光纤的偏振模色散测定方法及光纤

摘要

本发明提供一种光纤的双折射测定方法，取得被测定光纤的从测定起点0到规定的位置z的第1区间(0，z)的往返琼斯矩阵R(z)、以及从测定起点0到与上述位置z不同的位置z+Δz的第2区间(0，z+Δz)的往返琼斯矩阵R(z+Δz)，求矩阵R(z+Δz)R(z)^－1的固有值ρ₁、ρ求从上述位置z到上述位置z+Δz的微小区间Δz的双折射，其中，Φ表示基于双折射的正交偏振光之间的相位差，Δn表示双折射，λ表示波长。

主权项

1.一种光纤的双折射测定方法，其特征在于，取得被测定光纤的从测定起点0到规定的位置z的第1区间(0，z)的往返琼斯矩阵R(z)、以及从上述测定起点0到与上述位置z不同的位置z+Δz的第2区间(0，z+Δz)的往返琼斯矩阵R(z+Δz)，求矩阵R(z+Δz)R(z)-1的固有值ρ1、ρ2，通过对下式(1)、(2)$\phi =\frac{\arg \left(\frac{{\rho }_1}{{\rho }_2}\right)}{2}---\left(1\right)$ $\mathrm{\Delta n}=\frac{\mathrm{\lambda \phi }}{2\pi ·\mathrm{\Delta z}}---\left(2\right)$ 进行运算，求从上述位置z到上述位置z+Δz的微小区间Δz的双折射，其中，Φ表示基于双折射的正交偏振光之间的相位差，Δn表示双折射，λ表示波长。