[发明专利]超声波探伤方法和超声波探伤装置

摘要

用高分子膜(2)封住介质槽(1)的底面开口并密封(a)，对介质槽(1)的内部(4)减压并使高分子膜(2)吸附在介质槽(1)的底部(b)，一面对介质槽(1)的内部(4)减压，一面注入超声波传导介质(5)，使得至少浸渍超声波探头(3)的前端(c)，在使检查对象(6)和介质槽(1)相对移动并使检查对象(6)和上述高分子膜(2)接触的状态下，向介质槽(1)的内部施加更大的压力(d)，用超声波探头(3)来接收从所述超声波探头(3)发送并由检查对象反射的超声波来进行检查，从而能够容易地进行生产工序中的高分子膜(2)的更换，而且对于检查对象即使没有检查对象和其周围的空间，也能够进行很好的检查。

主权项

1.一种超声波探伤装置，其特征在于，设置用高分子膜封闭底面并在内部装有超声波传导介质且密封了的介质槽、以及至少将前端浸渍在所述介质槽中装有的超声波传导介质中的超声波探头，使所述高分子膜吸附在介质槽的底部，同时使检查对象和所述介质槽相对移动并使检查对象和所述高分子膜接触，然后设定超声波探头和所述检查对象之间的距离，从而用所述超声波探头来接收从所述超声波探头发送并由检查对象反射的超声波，来进行检查。